Это изображение желательно воссоздать или аккуратно преобразовать в векторный формат SVG. Это даёт несколько преимуществ, прочитать о которых подробнее вы можете на странице Commons:Media for cleanup. Если вам уже сейчас доступна векторная версия данного изображения, загрузите её, пожалуйста, а затем замените этот шаблон на следующий: {{Vector version available|Имя загруженного файла.svg}}.
Это изображение (или все изображения в этой статье или категории) были загружены в формате JPEG. Однако, оно содержит информацию, которая могла бы храниться более рационально в формате PNG или SVG. Если у вас имеется такая возможность, пожалуйста, загрузите PNG- или SVG-версию этого изображения без артефактов сжатия, получив его из исходного материала не в формате JPEG, либо убрав существующие артефакты. После того, как это будет сделано, пожалуйста:
Пометьте это изображение как заменённое, добавив один из этих шаблонов.
Воспользуйтесь ссылкой «Номинировать на удаление» в левой панели, чтобы запросить удаление старого изображения (эта ссылка добавляется включенным по умолчанию гаджетом; если вы выключили его, то запросите удаление вручную: добавьте на страницу изображения шаблон {{Delete}}, и добавьте запрос на удаление на страницу Commons:Deletion requests).
Краткое описание
Overview of the main types of Scannig Probe Microscope types:
Scanning tunneling microscope (STM) - using the tunneling current I between the outermost atom of a conducting probe within an atomic distance from a substrate to map out the sample topography and electrical properties.
Atomic force microscope (AFM) - using the van der Waals forces or contact forces between a tip and the sample to measure the sample topography or mechanical properties.
Scanning near-field optical microscope (SNOM) - using the scattered light through a sub-wavelenght aperture to form an image.
делиться произведением – копировать, распространять и передавать данное произведение
создавать производные – переделывать данное произведение
При соблюдении следующих условий:
атрибуция – Вы должны указать авторство, предоставить ссылку на лицензию и указать, внёс ли автор какие-либо изменения. Это можно сделать любым разумным способом, но не создавая впечатление, что лицензиат поддерживает вас или использование вами данного произведения.
https://creativecommons.org/licenses/by/2.5CC BY 2.5 Creative Commons Attribution 2.5 truetrue
Краткие подписи
Добавьте однострочное описание того, что собой представляет этот файл
Overview of the main types of Scannig Probe Microscope types: *scanning tunneling microscope (STM) *Atomic force microscope (AFM) *Scanning Near-field Optical Microscope (SNOM) *Illustration by [http://kristian.molhave.dk Kristian Molhave] *Please acknow
Файл содержит дополнительные данные, обычно добавляемые цифровыми камерами или сканерами. Если файл после создания редактировался, то некоторые параметры могут не соответствовать текущему изображению.