Исходный файл (789 × 732 пкс, размер файла: 127 КБ, MIME-тип: image/jpeg)

Краткое описание

Описание
English: NIST Next-Generation Nanometrology research
Дата
Источник NIST Programs of the Manufacturing Engineering Laboratory
Автор National Institute of Standards and Technology’s Manufacturing Engineering

Лицензирование

Public domain
This image is in the public domain in the United States because it is a work of the United States Federal Government, specifically an employee of the National Institute of Standards and Technology, under the terms of Title 17, Chapter 1, Section 105 of the US Code.

العربية  English  日本語  македонски  Nederlands  +/−

Personality rights Несмотря на то, что это произведение доступно по свободной лицензии или находится в общественном достоянии, у изображённых людей могут быть права, которые не позволят вам использовать эту работу для некоторых целей. В таком случае вы должны получить разрешение от изображённых людей, чтобы защититься от судебных исков. Автор фотоснимка не обязан вам помогать, но вы можете попросить у него совета, как получить такое разрешение. Читайте об этом в подробной справке.

Краткие подписи

Добавьте однострочное описание того, что собой представляет этот файл

Элементы, изображённые на этом файле

изображённый объект

История файла

Нажмите на дату/время, чтобы посмотреть файл, который был загружен в тот момент.

Дата/времяМиниатюраРазмерыУчастникПримечание
текущий19:20, 4 августа 2009Миниатюра для версии от 19:20, 4 августа 2009789 × 732 (127 КБ)Mdd== Summary == {{Information |Description={{en|1=NIST Next-Generation Nanometrology research}} |Source=[http://www.mel.nist.gov/programs/pbookweb.pdf NIST Programs of the Manufacturing Engineering Laboratory] |Author=National Institute of Standards and Te

Следующая страница использует этот файл:

Глобальное использование файла

Данный файл используется в следующих вики:

Метаданные