Файл:AFMimageRoughGlass20x20.png
Нет версии с бо́льшим разрешением.
AFMimageRoughGlass20x20.png (401 × 326 пкс, размер файла: 187 КБ, MIME-тип: image/png)
 | Этот файл находится на Викискладе. Сведения о нём показаны ниже.
Викисклад — централизованное хранилище для свободных файлов, используемых в проектах Викимедиа.
|
| Описание |
Atomic force microscope topographical scan of a glass surface. The micro and nano-scale features of the glass can be observed, portraying the roughness of the material. The image space is (x,y,z) = (20um x 20um x 420nm). The AFM used was the Veeco di CP-II, scanned in contact mode. Constructed at the Nanorobotics Laboratory at Carnegie Mellon University (http://nanolab.me.cmu.edu). |
||
| Дата | |||
| Источник | http://en.wiki.x.io/w/index.php?title=File:AFMimageRoughGlass20x20.png&oldid=78162444 | ||
| Автор | Chych | ||
| Права (Повторное использование этого файла) |
|
История файла
Нажмите на дату/время, чтобы посмотреть файл, который был загружен в тот момент.
| Дата/время | Миниатюра | Размеры | Участник | Примечание | |
|---|---|---|---|---|---|
| текущий | 17:43, 19 февраля 2009 | | 401 × 326 (187 КБ) | Linforest | {{Information |Description=Atomic force microscope topographical scan of a glass surface. The micro and nano-scale features of the glass can be observed, portraying the roughness of the material. The image space is (x,y,z) = (20um x 20um x 420nm). The AFM |
Использование файла
Следующая страница использует этот файл:
Глобальное использование файла
Данный файл используется в следующих вики:
- Использование в en.wiki.x.io
- Использование в fa.wiki.x.io
- Использование в hi.wiki.x.io
- Использование в it.wiki.x.io
- Использование в mr.wiki.x.io
- Использование в vi.wiki.x.io
- Использование в zh-yue.wiki.x.io
- Использование в zh.wiki.x.io
